デジタル情報人材育成講演会
| 開催日時 | 2026年1月30日（金）16:20〜（16:00開場） |
| 会場 | 愛媛大学総合情報メディアセンター メディアホール |
| 演題 | 半導体の品質を支える先端テスト技術 現代社会において半導体は、あらゆる製品の中核を担い、 安心・安全な社会の実現に不可欠な役割を果たしています。 本講演では、特に品質要求が最も厳しい車載半導体を対象に、 その品質基準とそれを確保するための最新テスト技術と 機能安全などの新しい取り組みについて解説します。 |
| プログラム | |
| 16:20～16:25 | 開会・機構長挨拶 |
| 16:25〜17:25 | 講演 ルネサスエレクトロニクス株式会社 エンジニアリンググループ ETDS Division デジタルバックエンド設計技術部 テストプラットフォーム技術課 Principal EDA Engineer 松嶋 潤 氏 |
| 17:25～17:45 | 質疑応答 |
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